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辉光放电光谱/质谱(GD-OES/MS)
    发布时间: 2025-02-13 18:23    

GD Profiler 2/Element GD



已测试50

收到样品后平均2.2-    style="color:#fc916d;">6.4工作日完成

98.5%对测试结果满意

辉光放电光谱/质谱(GD-OES/MS)

98.5%

满意度

仪器型号:

GD Profiler 2/Element GD

预约次数:

50

服务周期:

收到样品后平均2.2-6.4工作日

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项目简介


辉光放电光谱

1.测量时显示时间-强度曲线,是客观的,客观体现随溅射时间的增加元素强度的变化;

2.测量后根据校准曲线拟合转换成深度-百分含量曲线;

3.本数据用ORIGIN直接导入即可,出现很多纵坐标,Y轴即为对应元素,选择需要的元素作图即可(数据中可能出现“Fi”的数据列为仪器参数请忽略)

 

辉光放电质谱:

可得到元素半定量数据。

样品要求


样品要求


样品尺寸:直径2cm左右,厚度0.5-2cm;粉末大于2g;

表面尽量光滑,粗糙度最好小于3。

结果展示


GDOES:

 

GDMS:


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