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IR-2
双波段发射率测量仪
99.1%
满意度
仪器型号:
预约次数:
50次
服务周期:
收到样品后平均2.4-4.5工作日
咨询预约
项目简介
双波段发射率
样品要求
仪器是点源测试(即一个点测出一个数据),非全扫描,每样品正常测9次计算得到平均值,
块体:样品直径3.5--4.8cm的片,厚最好1mm以上,太薄会透射,表面不要太粗糙
有基底的薄膜样品,薄膜厚度最好10微米以上,太薄了测试基本上不准确
粉末5g,不建议用粉末测试,误差较大
结果展示