用心服务科研
M-2000v，J.A. Woollam RC2等
已测试50次
收到样品后平均2.6-
98.2%对测试结果满意
椭偏仪
98.2%
满意度
仪器型号：
M-2000v，J.A. Woollam RC2等
预约次数：
50次
服务周期：
收到样品后平均2.6-5.0工作日
咨询预约
项目简介
a. n（折射率）,k（消光系数）值
b. 膜厚
常规椭偏仪的光谱测试范围370到1000nm，其他范围请咨询项目经理189131477291
膜厚的测试范围是0.5nm-10um。
样品要求
样品要求
1. 样品状态：材料一般为块状或薄膜，大小无特殊要求；
2. 如果有基底的膜层结构要做折射率和消光系数，基地厚度要求越厚越好，膜层厚度要在10um以下，如果是单层膜样品，没有基底，膜厚越厚越好，最好500um以上；膜层需为透明薄膜且膜层表面均匀，基底不需要透明。
3.特殊情况需提前沟通。
结果展示
一般格式及数据处理如下说明（仅供参考，具体以实际测试为准，不同仪器会有差异）：
测试结果给出的是图片格式和txt格式测试结果。文本格式文件可以用EXCEL打开，Origin软件作图。
常见问题
提问
1. 关于测试光谱范围的选择？
回答
椭偏仪的光谱范围在深紫外的142nm到红外33um可选。光谱范围的选择取决于被测材料的属性、薄膜厚度及关心的光谱段等因素。例如，掺杂浓度对材料红外光学属性有很大的影响，因此需要能测量红外波段的椭偏仪；薄膜的厚度测量需要光能穿透这薄膜，到达基底，然后并被探测器检测到，因此需要选用该待测材料透明或部分透明的光谱段；对于厚的薄膜选取长波长更有利于测量。
